מהנדס/תהמרכז לטומוגרפיית דגימה אטומיסטית

תאור התפקיד
הפקולטה למדע והנדסה של חומרים מקימה מרכז
חדש לאפיון חומרים, ומציעה תפקיד בתפעול,
תחזוקה,
שירות ומחקר הקשורים למערכת טומוגרפיית דגימה
אטומיסטית (Atom-Probe Tomography; APT)
מסוג LEAP 6000 XR שנרכשה לאחרונה.
דרוש/ה בוגר/ת דוקטורט במדע והנדסה של
חומרים, פיסיקה של מצב מוצק, כימיה, הנדסה
כימית או תחום קרוב.
התפקיד דורש מומחיות מוכחת באפיון חומרים תוך
יישום APT או טכניקות אחרות כגון מיקרוסקופיית
אלקטרונים יחד עם כישורים טכניים ומיומנויות
בינאישיות ויכולת הוראה.
התפקיד כולל:
• תפעול ותחזוקת המערכת: ניהול פעולות
תחזוקה על-בסיס יומיומי; פיקוח על תחזוקה
שוטפת של מערכות ואקום, לייזר, קריוגניקה,
מיקרומכניקה, רכיבי מתח גבוה, ומערכות
אלקטרוניקה מהירה; פתרון בעיות בשיתוף פעולה
עם מהנדסי שירות מחו"ל לפי הצורך; ניהול מערכת
רישום משתמשים ופיקוח תקציבי; השתתפות
בקורסים תפעוליים מטעם היצרן ובפגישות
קבוצתיות של משתמשים לעדכונים על שיטות
עבודה מתקדמות.
• מחקר: ביצוע מחקרים ברמה גבוהה
באפיון חומרים ושיתוף פעולה בפרויקטים מחקריים
עם שותפים מהאקדמיה והתעשייה; איסוף וארגון
נתונים באמצעות תוכנות ייעודיות.
• הוראה ותמיכה במשתמשים: הדרכה
מעשית של סטודנטים ומשתמשים במערכת APT
ע"י מיני-קורסים והכשרה מעשית; מתן שירות
למשתמשים אקדמיים ותעשייתיים באיסוף נתונים
וניתוחם.
• מעורבות בקהילה המדעית והתעשייתית:
השתתפות פעילה בכנסים מדעיים בינ"ל, סדנאות
וסמינרים; שותפות בפרסום מחקרים ותרומה
לשיתופי פעולה אקדמיים ותעשייתיים.

הכישורים הדרושים
• דוקטורט במדע והנדסה של חומרים,
פיסיקה של מצב מוצק, כימיה, הנדסה כימית או
תחום קרוב.
• מומחיות באחד מהתחומים הבאים לפחות:
מיקרוסקופיית אלקטרונים חודרת (TEM),
מיקרוסקופיית אלקטרונים סורקת אנליטית(SEM) ,
מיקרוסקופיית קרני-יונים ממוקדות (FIB),
ספקטרומטריית מסות יונים משניים (SIMS),
ספקטרוסקופיית Auger , או טכניקות דומות.
• ניסיון מוכח עם טכנולוגיות ואקום,
מערכות לייזר, קריוגניקה ורכיבי מתח גבוה או חלק
מהנ"ל.
• ניסיון מוכח עם חבילות תוכנה לניתוח
נתונים.
• תקשורת בינאישיות טובה עם ניסיון
בהוראה ועבודה עם משתמשים מרקעים מדעיים
שונים.
• יכולות שימוש בטכניקות ניתוח big data
ויישום אלגוריתמים של למידת מכונה מהוים יתרון.

היקף המשרה
100%
הערות